高精度数字化激光干涉仪关键技术”鉴定会成功召开

2019年10月24日，由中国仪器仪表学会组织的“高精度数字化激光干涉仪关键技术”项目鉴定会在上海理工大学成功举行。本项目是由上海理工大学、苏州慧利仪器有限责任公司和苏州维纳仪器有限责任公司共同完成。

本次鉴定会的特点是高规格和国际化，首次由国内外院士和同行专家共同评审的一次国际性鉴定会。鉴定委员会专家由中国工程院院士庄松林、中国工程院院士李同保、中国工程院院士姜会林、中国工程院外籍院士和澳大利亚两院院士顾敏、中国计量科学研究院院长方向、上海光学精密机械研究所书记邵建达、德国联邦物理技术研究所主任Gerd Ehret、英国南安普顿大学教授John Mcbride、深圳大学教授彭翔、德国斯图加特大学主任Pedrini Giancarlo组成。

鉴定会合影留念

副理事长吴幼华和主任燕泽程分别介绍了与会专家和鉴定会要求，上海理工大学副校长刘平致欢迎辞，上海理工大学科技处处长张大伟出席，中国工程院院士李同保主持了鉴定会，上海理工大学教授韩森做项目汇报。

副理事长吴幼华和主任燕泽程组织会议

上海理工大学副校长刘平致欢迎辞

中国工程院院士李同保主持项目鉴定会会议

上海理工大学教授韩森做项目汇报

鉴定委员会听取项目研究报告后，审查了有关技术文件，查看了高精度数字化激光干涉仪。评审环节，各位专家分别就平面计量方向、测量环境、传递函数等问题提出了质询和深入讨论，并给出合理建议。

最终对项目的关键创新点突破一等平面平晶检测的瓶颈限制、突破有限特定波长检测透射系统波前的局限、发明环形导轨内外槽面光学检测装置、提出模块化设计思路给予高度评价。形成鉴定结论：该项目研究成果技术难度大，创新性强，取得了多项自主知识产权，部分产品填补国内空白，总体技术达到了国际先进水平，PV值测量等核心指标及相关技术达到国际领先水平。